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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡 |
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公司信息
產(chǎn)品展示
Product| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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SmartLab日本理學(xué)x射線粉末衍射儀智能型SmartLab X射線儀器 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)x射線粉末衍射儀智能型SmartLab得到了活躍在世界科學(xué)領(lǐng)域前沿的學(xué)者和研究者的高度評(píng)價(jià)和 信賴,是X射線衍射儀器的產(chǎn)品. 產(chǎn)品型號(hào)：SmartLab 所在地：上海市 更新時(shí)間：2023-07-17 |
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TDL日本理學(xué)熱膨脹儀TDL 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)熱膨脹儀TDL自動(dòng)進(jìn)樣器 緊湊型自動(dòng)進(jìn)樣器可以搭載zui多30個(gè)樣品，不僅可以節(jié)電還可以實(shí)現(xiàn)大樣品量測(cè)量。 產(chǎn)品型號(hào)：TDL 所在地：上海市 更新時(shí)間：2022-07-12 |
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DSC日本理學(xué)高靈敏差示掃描量熱儀DSC 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)高靈敏差示掃描量熱儀DSC樣品轉(zhuǎn)換器 DSC樣品轉(zhuǎn)盤可以使用所有5mm直徑樣品盤且可以根據(jù)測(cè)量條件選擇多達(dá)3種參考樣品。可以根據(jù)測(cè)量樣品選擇與不同冷卻系統(tǒng)組合。測(cè)量條件及操作可以通過單一窗口設(shè)置。 產(chǎn)品型號(hào)：DSC 所在地：上海市 更新時(shí)間：2022-07-12 |
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日本理學(xué)上照射式 X射線熒光光譜儀 簡(jiǎn)單介紹：PrimusII是理學(xué)公司日本理學(xué)上照射式 X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析（如C,B）靈敏度大幅度提高.超輕元素對(duì)應(yīng)X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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日本理學(xué)多道同時(shí)分析型X射線熒光光譜儀 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)多道同時(shí)分析型X射線熒光光譜儀zui大輸出功率3kW（可選4kW）,電壓60kV,電流80mA。穩(wěn)定性好 對(duì)外電路波動(dòng)10%為0.005% 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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日本理學(xué)下照式X射線熒光光譜儀 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)下照式X射線熒光光譜儀 分析對(duì)象:4Be-92U 分光系統(tǒng):波長色散式 X射線發(fā)生部 X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高壓發(fā)生器:高頻變頻器方式 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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3D CT與Nano 3DX日本理學(xué)X熒光光譜儀3D CT與Nano 3DX 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)X熒光光譜儀3D CT與Nano 3DX 用于材料科學(xué)的亞微米斷層攝影 （CT），nano3DX是一種高分辨率 3D X 射線顯微鏡， 它將Rigaku *的高亮度旋轉(zhuǎn)陽極 X 射線發(fā)生器與專有的高分辨率 CCD X 射線攝像頭相結(jié)合，提供亞微米級(jí)高對(duì)比度斷層攝影。 產(chǎn)品型號(hào)：3D CT與Nano 3DX 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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XRF日本理學(xué)臺(tái)式波長色散型X射線熒光光譜儀XRF 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)臺(tái)式波長色散型X射線熒光光譜儀XRF 直接檢測(cè)，無需樣品前處理。 滿足煉油廠、實(shí)驗(yàn)室等工業(yè)生產(chǎn)需要。 檢出限低、檢測(cè)范圍寬、重復(fù)性優(yōu)異。 無需氣體、運(yùn)行在標(biāo)準(zhǔn)電源下。 符合ASTMD-2622、ISO20884、JISIC2541-7標(biāo)準(zhǔn)。 產(chǎn)品型號(hào)：XRF 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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TMA日本理學(xué)熱機(jī)分析儀TMA 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)熱機(jī)分析儀TMA TMA8311自動(dòng)冷卻型在這個(gè)冷卻系統(tǒng)，液氮作為冷卻介質(zhì)，可以根據(jù)溫度程序連續(xù)供應(yīng)。作為附件，適合加熱/冷卻測(cè)量從-150°C ~ 600°C. 產(chǎn)品型號(hào)：TMA 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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DSCvesta日本理學(xué)DSCvesta差式掃描熱量?jī)x 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)DSCvesta差式掃描熱量?jī)x 通過采用創(chuàng)新的Δ（Delta）Block構(gòu)造的爐體，在低消耗電力下實(shí)現(xiàn)高效冷卻和加熱。此外還對(duì)應(yīng)連續(xù)測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：DSCvesta 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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TG-DTA日本理學(xué)熱重差熱分析儀TG-DTA 簡(jiǎn)單介紹：日本理學(xué)熱重差熱分析儀TG-DTA 水平差的三重線圈平衡系統(tǒng)擁有在質(zhì)量變化檢測(cè)上的成功經(jīng)驗(yàn)。他可以校準(zhǔn)和取消各種波動(dòng)帶來的漂移。與新開發(fā)的電路相結(jié)合實(shí)現(xiàn)低噪音且基線穩(wěn)定。 產(chǎn)品型號(hào)：TG-DTA 所在地：上海市 更新時(shí)間：2020-06-11 |
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